江苏电镀镀层测厚仪 惠州电镀镀层测厚仪xray电镀测厚仪

镀层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中**种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
脉冲幅度：0-7.6V;A/D位数：12位;分析道数：4096道;7、准直器系统：准直器：Ø0.1 mm(可根据要求选配)

X射线膜层测厚仪技术参数：外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm；样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ；测试时，可开盖，对样品长度无限制；检测开槽口时，厚度10mm以上，宽度和深度没有限制。样品台尺寸：230(W)×210(D)mm；范围：50(X)mm， 50(Y)mm；Z轴升降平台升降范围：0-140mm；2、仪器重量：90kg；3、SDD半导体探测器：探测器输入电压：±12V，+5V；探头窗口面积：25mm-2---；探头窗口厚度：0.5mil分辨率：140±5eV；；探头内制冷温度：<-40℃；4、X射线光管：管压：5-50kV；管流：0-1；材：W；窗口：铍窗制冷方式：风冷；工作温度：≤75℃；5、高压发生器：输入电压：24V；输入电流：5A；管压：0-50kV；管流：0-2；灯丝电压：5V;灯丝电流：3.5A;;6、MCA多道分析器：;输入电压：±12V，+5V;;采样频率：100 KHZ

X射线测厚仪thick800a是天瑞仪器研制的检测金属厚度的仪器，已经在电镀行业得到大规模的应用，深受客户**。仪器采用特的上照式机构，能够适应各种不规则和体积大小样品的表面镀层测试。三维自动平台，可实现X/Y/Z轴的自动定位，操作性能好。产品实际性能同类三年以上。X射线电镀层膜厚仪介绍及图片：

镀层测厚仪关键有以下功能优点：
1、测量速度快，具有单次和连续2种测量方式可选择；
2、精度高 ，自动记忆校准值和自动识别被测基体的材质；
3、镀层测厚仪稳定性高，操作测量时会有蜂鸣器提示音和连续测量时蜂鸣器不发声提示；
4、功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法：覆层厚度的测量方法关键有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中**种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
天瑞仪器有限公司生产的能量色散X荧光光谱仪系列在电镀检测行业中， 针对上述五项需求的应用：
(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可分析；
(2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测，检测环境里的重金属是否**标。
同时具有以下特点
快速：1分钟可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
直观：实时谱图，可直观显示元素含量。
测试范围广：X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。
满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可仪器状态，设定仪器参数，并有多种的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。
简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。
3、天瑞一直致力于分析仪器事业，相信天瑞会为电镀行业的客户提供有竞争力的解决方案和服务。
天瑞仪器作为一个集仪器研发、系统设计、产品生产、服务提供为一身的综合性仪器供应厂商，一直以来严格遵循“360°服务”的客户服务理念，以提高顾客满意度为根本目标，从服务力量、服务流程、服务内容等各个方面为客户提供的服务。
我公司为客户提供技术、方案设计、技术交流、产品制造、系统集成、现场勘察、工程实施、技术培训、服务、故障处理、、巡检等全过程、、全系列的服务。这些不仅让客户体验到天瑞仪器高质量的服务，更为客户创造了更高的价值。
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