元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
探测器输入电压±12V，+5V
外观尺寸576(W)×495(D)×545(H) mm
探头窗口面积25mm-2---
样品室尺寸500(W)×350(D)×140(H) mm ，
探头窗口厚度0.5mil
仪器重量90kg
分辨率140±5eV
半导体探测器SDD
探头内制冷温度<-40℃
扫描电镜法是通过从待测试样上部位垂直于覆盖层切割一块试样，经过镶嵌、研磨、抛光和浸蚀制成横截面金相试样，利用扫描电子显微镜进行镀层厚度测量。
测试设备：扫描电子显微镜
参考标准：/T 7503, ISO 9220,ASTM B748
江苏天瑞仪器股份有限公司基于强大的研发和应用能力特别为电镀行业制定了一套有效的测试解决方案。镀层膜厚检测：有效进行镀层厚度的产品质量管控。电镀液分析：检测电镀液成分及浓度，确保镀层质量。水质在线监测：有效监测电镀所产生的工业废水中的有害物质含量，已达到排放标准。RoHS有害元素检测：为电镀产品符合RoHS标准，严把质量关。重金属及槽液杂质检测：有效检测电镀成品，以及由电镀所产生的工业废水、废物中的重金属含量电镀层厚度分析仪产品用于镀锌，镀镍层，镀银层检测分析，国内生产电镀层厚度分析仪产品的是江苏天瑞仪器公司，Thick800A是天瑞集多年的经验，研发用于电镀层厚度分析仪产品仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及平台。是功能强大的仪器，配上为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
产品图片：
快门类型：面阵;光学尺寸：1/4英寸;有效像素：659(H)×494（V）;有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)
滤光片：Al(可根据要求选配);8、高清晰摄像头：传感器类型：CCD（彩色）;接口：U2.0;传感器厂商：索尼
像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：;感应度：0.58V（索尼标准）;颜色排列：RGB;帧率：30fps;快门速度：1/1538-1/30（秒）;9、自动对焦系统：通用数字激光传感器、CMOS激光传感器;
实现样品高度的自动对焦。
天瑞仪器有限公司生产的能量色散X荧光光谱仪系列在电镀检测行业中， 针对上述五项需求的应用：
(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可分析；
(2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测，检测环境里的重金属是否**标。
同时具有以下特点
快速：1分钟可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器，能量分辨率更优于eV，测试精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用更加方便，并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
直观：实时谱图，可直观显示元素含量。
测试范围广：X荧光光谱仪，是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。
满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可仪器状态，设定仪器参数，并有多种的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高：相比化学分析类仪器，X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。
简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。
3、天瑞一直致力于分析仪器事业，相信天瑞会为电镀行业的客户提供有竞争力的解决方案和服务。
天瑞仪器作为一个集仪器研发、系统设计、产品生产、服务提供为一身的综合性仪器供应厂商，一直以来严格遵循“360°服务”的客户服务理念，以提高顾客满意度为根本目标，从服务力量、服务流程、服务内容等各个方面为客户提供的服务。
我公司为客户提供技术、方案设计、技术交流、产品制造、系统集成、现场勘察、工程实施、技术培训、服务、故障处理、、巡检等全过程、、全系列的服务。这些不仅让客户体验到天瑞仪器高质量的服务，更为客户创造了更高的价值。
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