元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
探测器输入电压±12V，+5V
外观尺寸576(W)×495(D)×545(H) mm
探头窗口面积25mm-2---
样品室尺寸500(W)×350(D)×140(H) mm ，
探头窗口厚度0.5mil
仪器重量90kg
分辨率140±5eV
半导体探测器SDD
探头内制冷温度<-40℃
镀层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中**种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
江苏天瑞仪器股份有限公司基于强大的研发和应用能力特别为电镀行业制定了一套有效的测试解决方案。镀层膜厚检测：有效进行镀层厚度的产品质量管控。电镀液分析：检测电镀液成分及浓度，确保镀层质量。水质在线监测：有效监测电镀所产生的工业废水中的有害物质含量，已达到排放标准。RoHS有害元素检测：为电镀产品符合RoHS标准，严把质量关。重金属及槽液杂质检测：有效检测电镀成品，以及由电镀所产生的工业废水、废物中的重金属含量电镀层厚度分析仪产品用于镀锌，镀镍层，镀银层检测分析，国内生产电镀层厚度分析仪产品的是江苏天瑞仪器公司，Thick800A是天瑞集多年的经验，研发用于电镀层厚度分析仪产品仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及平台。是功能强大的仪器，配上为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
产品图片：
X射线膜层测厚仪技术参数：外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm；样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ；测试时，可开盖，对样品长度无限制；检测开槽口时，厚度10mm以上，宽度和深度没有限制。样品台尺寸：230(W)×210(D)mm；范围：50(X)mm， 50(Y)mm；Z轴升降平台升降范围：0-140mm；2、仪器重量：90kg；3、SDD半导体探测器：探测器输入电压：±12V，+5V；探头窗口面积：25mm-2---；探头窗口厚度：0.5mil分辨率：140±5eV；；探头内制冷温度：<-40℃；4、X射线光管：管压：5-50kV；管流：0-1；材：W；窗口：铍窗制冷方式：风冷；工作温度：≤75℃；5、高压发生器：输入电压：24V；输入电流：5A；管压：0-50kV；管流：0-2；灯丝电压：5V;灯丝电流：3.5A;;6、MCA多道分析器：;输入电压：±12V，+5V;;采样频率：100 KHZ
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求，φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐，鼠标可控制平台，鼠标点击的位置是被测点
高分辨率探头使分析结果更加，良好的射线屏蔽作用。测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
型：Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀（U）。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm。分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）任意多个可选择的分析和识别模型。相互的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序多次测量重复性可达0.1%长期工作稳定性可达0.1%度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源。外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm重量：90kg
标准配置
开放式样品腔。精密二维样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。Si-Pin探测器。检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机
快门类型：面阵;光学尺寸：1/4英寸;有效像素：659(H)×494（V）;有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)
应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测.金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。主要用于贵金属加工和饰加工行业；银行，饰销售和检测机构；电镀行业。
江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本15392万。旗下拥有北京邦鑫伟业技术开发有限公司和深圳市天瑞仪器有限公司两家全资子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。
http://tcjb123.cn.b2b168.com
