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产品描述
EDX600 PLUS是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光镀层厚度测量技术经验,专门研发的一款下照式结构的电镀测厚仪。测量方便快捷,*液氮,*样品前处理。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行准确检测,帮助企业准确核算成本及质量管控。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电器、航空**、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。
进口的高功率高压单元搭配微聚焦的X光管,较大的保了信号输出的效率与稳定性。
相比普通版的EDX 600,EDX 600 PLUS采用了更为先进的高分辨率FAST SDD探测器,其分辨率高达140EV,能**的将不同的元素准确解析,针对多镀层与复杂合金镀层的测量,有着不可比拟的优势。
在准直器的选择上,EDX 600 PLUS也有着很大的优势,相较于普通的EDX600,它可以搭配的准直器更小∶0.1*0.2mm,φ0.15mm;φ0.2mm;φ0.3mm等等。用**小的准直器得到的**小光斑,让更小样品的测量也变得游刃有余。
设计亮点
全新的下照式设计,一键式的按钮,较大减少摆放样品时间。
全新的光路系统,很大程度上减少了光斑的扩散,实现了对更小产品的测试。
配合高性能距离补正算法,实现了对不规则样品(如凹凸面,拱形,螺纹,曲面等)的异型测试面的准确测试。
软件界面
人性化的软件界面,让操作变得更加便捷。
曲线的中文备注,让您的操作更易上手。
仪器硬件功能的实时监控,让您的使用更加放心。
EDX600PLUS与EDX600的技术参数对比
结论∶经实测,EDX600 PLUS针对镀层厚度分析,尤其是微小样品的厚度检测,有着非常**的稳定性与精密度,测试效果可以与**高倍数的电子显微镜测试准确度媲美。
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