元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
探测器输入电压±12V，+5V
外观尺寸576(W)×495(D)×545(H) mm
探头窗口面积25mm-2---
样品室尺寸500(W)×350(D)×140(H) mm ，
探头窗口厚度0.5mil
仪器重量90kg
分辨率140±5eV
半导体探测器SDD
探头内制冷温度<-40℃
涂镀层厚度测试应用领域
电子、汽车、航空、材料、金属、陶瓷品等各个制造领域。
镀层测厚仪关键有以下功能优点：
1、测量速度快，具有单次和连续2种测量方式可选择；
2、精度高 ，自动记忆校准值和自动识别被测基体的材质；
3、镀层测厚仪稳定性高，操作测量时会有蜂鸣器提示音和连续测量时蜂鸣器不发声提示；
4、功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法：覆层厚度的测量方法关键有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中**种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求，φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐，鼠标可控制平台，鼠标点击的位置是被测点
高分辨率探头使分析结果更加，良好的射线屏蔽作用。测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
型：Thick 800A元素分析范围从硫(S)到铀（U）。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm。分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）任意多个可选择的分析和识别模型。相互的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序多次测量重复性可达0.1%长期工作稳定性可达0.1%度适应范围为15℃至30℃。电源: 交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源。外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm重量：90kg
标准配置
开放式样品腔。精密二维样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。Si-Pin探测器。检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机
X射线测厚仪thick800a是天瑞仪器研制的检测金属厚度的仪器，已经在电镀行业得到大规模的应用，深受客户**。仪器采用特的上照式机构，能够适应各种不规则和体积大小样品的表面镀层测试。三维自动平台，可实现X/Y/Z轴的自动定位，操作性能好。产品实际性能同类三年以上。X射线电镀层膜厚仪介绍及图片：
X射线膜层测厚仪技术参数：外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm；样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ；测试时，可开盖，对样品长度无限制；检测开槽口时，厚度10mm以上，宽度和深度没有限制。样品台尺寸：230(W)×210(D)mm；范围：50(X)mm， 50(Y)mm；Z轴升降平台升降范围：0-140mm；2、仪器重量：90kg；3、SDD半导体探测器：探测器输入电压：±12V，+5V；探头窗口面积：25mm-2---；探头窗口厚度：0.5mil分辨率：140±5eV；；探头内制冷温度：<-40℃；4、X射线光管：管压：5-50kV；管流：0-1；材：W；窗口：铍窗制冷方式：风冷；工作温度：≤75℃；5、高压发生器：输入电压：24V；输入电流：5A；管压：0-50kV；管流：0-2；灯丝电压：5V;灯丝电流：3.5A;;6、MCA多道分析器：;输入电压：±12V，+5V;;采样频率：100 KHZ
应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测.金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。主要用于贵金属加工和饰加工行业；银行，饰销售和检测机构；电镀行业。
江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本15392万。旗下拥有北京邦鑫伟业技术开发有限公司和深圳市天瑞仪器有限公司两家全资子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。
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