元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
探测器输入电压±12V,+5V
外观尺寸576(W)×495(D)×545(H) mm
探头窗口面积25mm-2---
样品室尺寸500(W)×350(D)×140(H) mm ,
探头窗口厚度0.5mil
仪器重量90kg
分辨率140±5eV
半导体探测器SDD
探头内制冷温度<-40℃
镀层测厚仪可以迅速、无损、精mi地对工件外表面涂镀层厚度的测量。既可用于试验室之中,也可用于各种工程现场,镀层测厚仪可用于航空航天、连接器、电镀、线路板、半导体等行业。
X射线测厚仪thick800a是天瑞仪器研制的检测金属厚度的仪器,已经在电镀行业得到大规模的应用,深受客户**。仪器采用特的上照式机构,能够适应各种不规则和体积大小样品的表面镀层测试。三维自动平台,可实现X/Y/Z轴的自动定位,操作性能好。产品实际性能同类三年以上。X射线电镀层膜厚仪介绍及图片:
镀层测厚仪关键有以下功能优点:
1、测量速度快,具有单次和连续2种测量方式可选择;
2、精度高 ,自动记忆校准值和自动识别被测基体的材质;
3、镀层测厚仪稳定性高,操作测量时会有蜂鸣器提示音和连续测量时蜂鸣器不发声提示;
4、功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法:覆层厚度的测量方法关键有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中**种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
滤光片:Al(可根据要求选配);8、高清晰摄像头:传感器类型:CCD(彩色);接口:U2.0;传感器厂商:索尼
快门类型:面阵;光学尺寸:1/4英寸;有效像素:659(H)×494(V);有效像素尺寸:3.69mm(H)×2.77mm(V)
天瑞仪器有限公司生产的能量色散X荧光光谱仪系列在电镀检测行业中, 针对上述五项需求的应用:
(1)、对镀层膜厚检测、电镀液分析可分析;
(2)、对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测,检测环境里的重金属是否**标。
同时具有以下特点
快速:1分钟可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损:测试前后,样品无任何形式的变化。
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可仪器状态,设定仪器参数,并有多种的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。
简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。
3、天瑞一直致力于分析仪器事业,相信天瑞会为电镀行业的客户提供有竞争力的解决方案和服务。
天瑞仪器作为一个集仪器研发、系统设计、产品生产、服务提供为一身的综合性仪器供应厂商,一直以来严格遵循“360°服务”的客户服务理念,以提高顾客满意度为根本目标,从服务力量、服务流程、服务内容等各个方面为客户提供的服务。
我公司为客户提供技术、方案设计、技术交流、产品制造、系统集成、现场勘察、工程实施、技术培训、服务、故障处理、、巡检等全过程、、全系列的服务。这些不仅让客户体验到天瑞仪器高质量的服务,更为客户创造了更高的价值。
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