哪些因素会影响膜厚仪的性能

一、基体金属磁化。
由于膜厚仪的磁性测量受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢的磁性变化可视为轻微）。为避免热处理、冷加工等因素的影响，仪器应在与镀金属性质相同的铁基板上进行校对。此外，每个膜厚仪都有一个基体金属的临界厚度，如果其大于该厚度，则不受基体厚度的影响。
二、边缘效应。
由于薄膜厚度计对试样表面的陡峭形状敏感，因此在试样边缘或内角附近进行测量是不可靠的。因此，薄膜厚度计的曲率对测量有影响，随着曲率半径的减小而显著增加。因此，不应在试样上测量**过允许曲率半径的弯曲面。
三、表面粗糙度。
基体金属和表面粗糙度对膜厚度计的测量有影响。粗糙的表面会导致系统误差和意外误差。在每次测量过程中，在不同的位置增加测量次数，以克服这种意外误差。如果基质金属粗糙，必须在未涂覆的粗糙相似的基质金属试件上取几个位置来校对仪器的零点；或者用无腐蚀性溶液去除基质金属上的覆盖层，然后校对仪器的零点。
影响膜厚仪性能的因素有哪些？
影响膜厚仪性能的因素有哪些？
四，磁场
各种电气设备周围产生的强磁场会干扰薄膜厚度计的测量厚度。薄膜厚度计对阻碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物敏感。因此，必须清除附着物，以确保探头直接接触覆盖层表面。值得注意的是，探头在测量过程中与样品表面保持垂直。
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