元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
探测器输入电压±12V，+5V
外观尺寸576(W)×495(D)×545(H) mm
探头窗口面积25mm-2---
样品室尺寸500(W)×350(D)×140(H) mm ，
探头窗口厚度0.5mil
仪器重量90kg
分辨率140±5eV
半导体探测器SDD
探头内制冷温度<-40℃
X射线和β射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：;感应度：0.58V（索尼标准）;颜色排列：RGB;帧率：30fps;快门速度：1/1538-1/30（秒）;9、自动对焦系统：通用数字激光传感器、CMOS激光传感器;
实现样品高度的自动对焦。
镀层测厚仪关键有以下功能优点：
1、测量速度快，具有单次和连续2种测量方式可选择；
2、精度高 ，自动记忆校准值和自动识别被测基体的材质；
3、镀层测厚仪稳定性高，操作测量时会有蜂鸣器提示音和连续测量时蜂鸣器不发声提示；
4、功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法：覆层厚度的测量方法关键有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中**种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
滤光片：Al(可根据要求选配);8、高清晰摄像头：传感器类型：CCD（彩色）;接口：U2.0;传感器厂商：索尼
快门类型：面阵;光学尺寸：1/4英寸;有效像素：659(H)×494（V）;有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)
应用领域
黄金，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测.金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。主要用于贵金属加工和饰加工行业；银行，饰销售和检测机构；电镀行业。
江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本15392万。旗下拥有北京邦鑫伟业技术开发有限公司和深圳市天瑞仪器有限公司两家全资子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。
http://tcjb123.cn.b2b168.com
